XF-P1M镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置双核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
一、镀层测厚仪XF-P1M产品特点
l元素检测范围:磷(No.15)~铀(No.92)
l可支持四层检测
l可同时支持镀层厚度和成分检测
l检出限:2nm(厚度),5ppm(成分)
l检测精度:相对误差±2.5%(镀层)
l定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
l遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B568标准。
l三准直器,多滤光片自动切换
lXY平面微动平台,行程:30mm×30mm
l铅玻璃窗口,方便观察样品
二、镀层测厚仪XF-P1M核心部件
l探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器
n面积:6mm2, 分辨率:145±5eV
l内置工控电脑:Intel i3双核+Win11系统
l高压电源:50KV/1mA数字高压电源
lX射线管:50KV/1mA
n窗口材料:铍窗;靶材:钨
n焦点:ϕ 0.1mm
l准直器:ϕ0.35mm/ϕ0.6mm/ϕ2mm
咨询热线:400-880-2738
地址:深圳宝安区上南东路128号恒昌荣高新产业园2栋10楼