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镀层测厚仪XF-P1M


    XF-P1M镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置双核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

    P1M-1.jpg

    一、镀层测厚仪XF-P1M产品特点

    l元素检测范围:(No.15)~铀(No.92)          

    l可支持层检测

    l可同时支持镀层厚度和成分检测

    l检出限:2nm(厚度),5ppm(成分)

    l检测精度:相对误差±2.5%(镀层

    l定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

    l遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B568标准。

    l三准直器,多滤光片自动切换

    lXY平面微动平台,行程:30mm×30mm

    l铅玻璃窗口,方便观察样品


    二、镀层测厚仪XF-P1M核心部件


    l探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器

    n面积:6mm2, 分辨率:145±5eV

    l内置工控电脑:Intel i3核+Win11系统

    l高压电源:50KV/1mA数字高压电源

    lX射线管:50KV/1mA

    n窗口材料:铍窗;靶材:钨

    n焦点:ϕ 0.1mm

    l准直器:ϕ0.35mm/ϕ0.6mm/ϕ2mm

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